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              通用作物育种高效组合

              一站式育种智能装备服务

              通用作物育种仪器组合

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              根系+叶面积PC

              根系+叶面积PC

              1、根系分析系统(GXY-A )

              专业用于植物离体洗根后的根系分析,可以分析根系长度、直径、表面积、体积、根尖数、分叉数等...

              产品详情 >>

              2、叶面积分析系统(YMJ-PC)

              由高拍仪+背光板装置+PC端软件组成,以拍摄手段获取图像后通过PC端软件进行分析。除生成叶片形态参数外,还会生成病斑、虫损参数,包括残叶分析和叶色分析...

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              高端籽粒考种+根系

              1、高端散粒考种系统(TPKZ-3)

              可以测量各种表面光滑的籽粒的数量、千/百粒重与平均粒型(包括长、宽、长宽比、周长、面积)...

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              2、根系分析系统(GXY-A)

              专业用于植物离体洗根后的根系分析,可以分析根系长度、直径、表面积、体积、根尖数、分叉数等...

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              高端籽粒考种+根系
              高端籽粒考种+叶面积Pc

              高端籽粒考种+叶面积Pc

              1、高端散粒考种系统(TPKZ-3)

              可以测量各种表面光滑的籽粒的数量、千/百粒重与平均粒型(包括长、宽、长宽比、周长、面积)...

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              2、叶面积分析系统(YMJ-PC)

              由高拍仪+背光板装置+PC端软件组成,以拍摄手段获取图像后通过PC端软件进行分析。除生成叶片形态参数外,还会生成病斑、虫损参数,包括残叶分析和叶色分析...

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              总粒型考种+叶面积PC

              1、总粒型考种系统(TPKZ-3-L)

              测量速度快,能够实时测量出籽粒的数量、粒长、粒宽、周长、面积、重量等参数。算法计算时间≤1s...

              2、叶面积分析系统(YMJ-PC)

              由高拍仪+背光板装置+PC端软件组成,以拍摄手段获取图像后通过PC端软件进行分析。除生成叶片形态参数外,还会生成病斑、虫损参数,包括残叶分析和叶色分析...

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              总粒型考种+叶面积PC
              根系+叶面积PC

              高端籽粒考种+叶面积CH

              1、高端籽粒考种系统(TPKZ-3)

              可以测量各种表面光滑的籽粒的数量、千/百粒重与平均粒型(包括长、宽、长宽比、周长、面积)...

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              2、叶面积测量系统(YMJ-CH)

              采用先进的图像处理技术,根据叶子特征提取、空间转换、边缘检测原理、形态学等技术综合设计的软件...

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              高端籽粒考种+株高

              1、高端籽粒考种系统(TPKZ-3)

              可以测量各种表面光滑的籽粒的数量、千/百粒重与平均粒型(包括长、宽、长宽比、周长、面积)...

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              2、株高测量仪(TPDM-G-1)

              适用于水稻、小麦、油菜等较矮作物的株高测量,也适用于测一部分枝位高作物...

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              高端籽粒考种+根系
              高端籽粒考种+根系+叶面积Pc

              高端籽粒考种+根系+叶面积Pc

              1、高端籽粒考种系统(TPKZ-3)

              可以测量各种表面光滑的籽粒的数量、千/百粒重与平均粒型(包括长、宽、长宽比、周长、面积)...

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              2、根系分析系统(GXY-A )

              专业用于植物离体洗根后的根系分析,可以分析根系长度、直径、表面积、体积、根尖数、分叉数等...

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              3、叶面积分析系统(YMJ-PC)

              由高拍仪+背光板装置+PC端软件组成,以拍摄手段获取图像后通过PC端软件进行分析。除生成叶片形态参数外,还会生成病斑、虫损参数,包括残叶分析和叶色分析...

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